LEADIRРешение за термичен мониторинг SWIR- Power Semiconductor Thermal Failure Loss Reduction
Силовите полупроводници (като IGBT и MOSFET) са основни компоненти нанови енергийни превозни средства, индустриални преобразуватели и фотоволтаични инвертори, а тяхната топлинна надеждност пряко определя продължителността на живота и безопасността на крайните продукти. По време на целия процес на тестване на научноизследователска и развойна дейност, инспекция на масово производство и терминално приложение проблемите със загубите, причинени от термична повреда, отдавна измъчват индустрията: традиционните методи за откриване на контакти (напр. термодвойки) лесно надраскват и повреждат устройства само с едно-точково вземане на проби; обикновеното инфрачервено оборудване има забавена реакция, не успява да улови преходни горещи точки и води до пропуснато откриване на потенциални рискове, което в крайна сметка причинява бракуване на образци за научноизследователска и развойна дейност, преработка на масово производство и ремонти на терминала след-продажби.
Насочвайки се към тези болезнени точки, решението на LEADIR изгражда цялостна система за топлинен мониторинг и намаляване на загубитеSWIR късовълнови-камерикато ядрото, включващо техническите предимства набез{0}}контактно, пълно улавяне, висока прецизност и индустриална{1}}стабилност, реализирайки намаляване на загубите при топлинна повреда на целия-процес за мощни полупроводници.
Основно техническо решение
Без{0}}контактно и не-разрушително наблюдение
Няма нужда от контакт с повърхността на чипа, като се избягват физически повреди от методите за-откриване, базирани на контакт, като сонди и термодвойки, подходящи за тестване на проби за научноизследователска и развойна дейност, инспекция на онлайн производствена линия и случайна проверка на терминално оборудване, намалявайки ненужните загуби във фазата на откриване.
01
Визуализация-в реално време на-топлинно разпределение в пълен диапазон
Ясно представя температурните разлики в ключови области като сърцевината на чипа, корпуса на опаковката и спойките на щифтовете, като напълно елиминира "мониторинга на слепи петна" за концентрация на топлина и позволява ранно идентифициране на потенциални рискове от термична повреда.
02
Точно улавяне на преходни горещи точки
Оборудван с200fps висока кадрова честотатехнология за изобразяване и скорост на отговор на ниво-милисекунда, то точно замразява динамични топлинни явления като импулсни високи температури на ниво милисекунда- (150 градуса +) и мигновени топлинни пикове по време на процеси на превключване, като елиминира пропуснатите откривания на преходни топлинни дефекти от източника и блокира изгарянето на устройството, причинено от термична повреда.
03
Високо{0}}прецизен температурен анализ
С атемпературна разделителна способност от ±2 градуса, той може точно да различи малки температурни градиенти, осигурявайки поддръжка на данни за оптимизиране на структурата на разсейване на топлината на чипа, настройка на параметрите на производствения процес и оценка на надеждността на продукта, намалявайки вероятността от термична повреда във фазите на проектиране и производство.
04
Индустриална -стабилна адаптация
SWIR камерата разполага с дизайн с ниска консумация на енергия (По-малко или равно на 9 W) за лесно интегриране в тестови стендове за масово производство,10V-30V широка съвместимост с напрежениеза да пасне на захранващи системи на различни производствени линии на марки и широк диапазон на работна температура-40 градуса ~70 градуса, адаптиране към сложни индустриални сценарии като висока температура и висока влажност, за да се гарантира стабилност на мониторинга.
05
Основна стойност за намаляване на загубите на клиенти
Намаляване на загубите във фаза на R&D
Ефективно избягва бракуването на пробите, причинено от повреда при откриване и термична повреда, като значително намалява степента на загуба на проби за R&D и спестява много разходи за материали за R&D всяка година; оптимизиране на дизайна на продукта с точни топлинни данни за значително съкращаване на цикъла на научноизследователска и развойна дейност.
Намаляване на загубите във фаза на масово производство
Ефективно скрининг на дефектни устройства с неравномерно топлинно разпределение онлайн, значително намаляване на скоростта на преработка в масовото производство, намаляване на разходите за преработка за една производствена линия всяка година и подобряване на производствената ефективност и използването на капацитета.
Намаляване на загубите във фазата на-продажба на терминала
Повишаване на надеждността на продуктите чрез пълен-термичен мониторинг на процеса, драстично намаляване на степента на ремонт на термични повреди на терминални продукти и намаляване на различни загуби, свързани с-компенсации след продажбата, поддръжка и репутация на марката всяка година.
Дългосрочна-търговска стойност
Значително намаляване на годишните цялостни разходи на клиентите за загуби след внедряване на решение, със забележителни кумулативни спестявания на годишни разходи; помагайки на клиентите постоянно да подобряват процентите на обратно изкупуване и успешно да навлязат във високия-класнов енергиен, индустриален контрол и фотоволтаичен инверторпазари със стабилно качество на продуктите.
Консултирайте се сега, за да получите персонализирани решения за топлинен мониторинг и точни оферти и да реализирате цялостно{0}}намаляване на загубите в процеса за производство и приложение на силови полупроводници!
